Microscopie electronică JEOL: SEM / TEM / FIB / XPS / EPMA
Microscopie electronică JEOL
- SEM
- TEM
- FIB
- EPMA
- Auger
- XPS
Cere oferta
Descriere
Microscopie Electronică JEOL
Specificații
Upgrade detectori: EDX, WDX, STEM etc.
Accesorii depunere: grafit, aur, platină etc.
Întreținere și service pentru sistemele SEM/TEM